高性能高纯锗(HPGe)平面辐射探测器,用于安全保障和非破坏性分析

  • 专门设计用于满足安全保障和NDA中所使用同位素比率软件代码的苛刻要求。
  • 在很宽的计数率范围内具有出色的分辨率,增加了测量的灵活性。
  • 可提供广泛的晶体直径。
  • 各种低温恒温器,包括适用于需要便携性应用的多方位杜瓦瓶选件。
  • 与所有现有的安全保障多通道分析仪兼容。
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    安全保障和非破坏性分析(NDA)应用中所需的精确同位素比率测量对伽马射线和X射线光谱技术提出了严格的要求。对能量区域的选择具体取决于样品类型、源以及材料基质。

    为获得高精度同位素比而编写的国家实验室软件代码必须能够处理这些光谱以分析其中峰组紧靠在一起的低能量和/或高能量区域。每个代码都需要卓越的系统分辨率和稳定性,以准确展开这些区域。

    最近的安全保障发展趋势促进了同位素比率测定需求的不断增长,其中涉及到更高的能量伽马射线。这需要测量衰减样品,例如在废物分析和某些国土安全应用中发现的样品。现在,诸如FRAM和MGAHI的软件代码可以从光谱的较高能量区域确定Pu同位素比率。因此,希望生产这样一种HPGe探测器,它既具有更高的能量性能,同时又能保持这些应用中所需的优异分辨率特性。

    ORTEC安全保障系列包括同轴和平面几何探测器,专门设计用于满足同位素比率测定中应用软件的需求,可在低能量分辨率和高能效之间达到最佳平衡。

    SGD平面探测器与所有常规MCA型号兼容,与ORTEC数字信号处理光谱仪一起使用时可获得最佳性能。

    所有SGD平面探测器都具有以下特点:

    • 可选择固定式、便携式和定制低温恒温器,包括最新的MOD多方位杜瓦瓶选件。
    • 坚固耐用的铝制端盖
    • 精简型前置放大器组件
    • 无LN2选件

    最新的低功耗电阻反馈前置放大器,具有“无环”输出,适用于所有现有类型的MCA系统。在±12和±24 V时功耗小于25 mA

    应用注意事项
    对于涉及验证申报材料值的安全保障核实测量,在专门设计的薄壁容器中通常采用纯样品。这发生在采用便携式系统的常规安全保障检查程序中。

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    SMART-1选件 (-SMN)
    SMART-1选件用于监控和报告重要的系统功能,还可保存验证码并在稍后报告该验证码。它包括高压,因此所有仪器都不需要外部高压电源。SMART-1采用坚固的ABS模塑塑料外壳,并通过模塑应变消除密封电缆牢牢地固定在探测器端盖上。这可避免探测器因水分泄漏到高压连接器中而受到严重损坏。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置,不会干扰屏蔽罩或其他安装硬件。

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