集成低温冷却系统选件（-ICS、-ICS-E）
集成低温冷却系统（ICS）低温恒温器配备有低温冷却器，不受不完全回温循环的影响。与使用标准型低温恒温器探测器的典型三天损失不同，ICS可以立即重新冷却，最大限度地减少因回温而损失的任何时间。ICS可配备内部前置放大器（-ICS）或外部前置放大器（-ICS-E）。
适用于-ICS的兼容探测器类型：GEM
适用于-ICS-E的兼容探测器类型：GEM、PROFILE、GMX
集成低温冷却低本底系统（-ICS-LB）
低本底探测器配有内置前置放大器、高纯铝端盖、高纯铝窗、高纯铝内杯，以及用于ICS集成低温冷却系统的低本底铜安装座。较低的本底材料可在特定计数时间内降低最小可探测活度（MDA），这为在低本底应用中增加样品通量提供了另一种方法。
兼容的探测器类型：GEM
SMART-1选件 (-SMP、-SMN)
SMART-1选件用于监控和报告重要的系统功能，还可保存验证码并在稍后报告该验证码。它包括高压，因此所有仪器都不需要外部高压电源。SMART-1采用坚固的ABS模塑塑料外壳，并通过模塑应变消除密封电缆牢牢地固定在探测器端盖上。这可避免探测器因水泄漏到高压连接器中而受到严重损坏。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不会干扰屏蔽或其他安装硬件。
适用于-SMP的兼容探测器类型：GEM、PROFILE、安全保障GEM、Actinide-85
适用于-SMN的兼容探测器类型：GMX、GLP、安全保障GLP
超高计数率前置放大器选件（-PL）
超高计数率前置放大器（晶体管复位前置放大器）可在1 MeV下处理高达1,000,000个计数/秒的输入计数率，并具有无反馈电阻的额外优势。
兼容的探测器类型：GEM、PROFILE、GMX
恶劣环境选件（-HE）
恶劣环境选件是一个坚固的碳纤维端盖，配有密封的电子设备外壳，并带有可更换的干燥剂包，用以确保电子设备保持100％干燥并指示何时需要更换干燥剂包。直径为76 mm或更大PopTop封装设计中的GEM系列探测器可配备此选件。
兼容的探测器类型：GEM、PROFILE、GMX
远程前置放大器选件（-HJ）
此选件让所有前置放大器和高压接头位于屏蔽之外，并将前置放大器和高压滤波器从Ge晶体“视线”移出。对于低本底应用，此选件消除了可能增加屏蔽内部本底的任何可能的前置放大器或高压滤波器组件。
兼容的探测器类型：GEM、PROFILE、GMX、GWL
低本底碳纤维端盖选件（-RB、-LB-C和-XLB-C）
低本底碳纤维端盖与Al、Mg和Cu一样坚固，产生的本底少，不腐蚀，并且可以检测低于10 keV的能量。这种较低的本底材料可在特定计数时间内降低最小可探测活度（MDA），这为在低本底计数应用中增加样品通量提供了另一种方法。碳纤维的较低Z可提供低能量窗口，而不会产生在大多数合金中发现的额外本底。
兼容的探测器类型：GEM、PROFILE、GMX
铍窗选件（-B）
提高了3至5 keV之间的性能。
兼容的探测器类型：PROFILE
铝窗选件（-A）
如果感兴趣的能量超过20 keV，则可以选择全铝端盖。
兼容的探测器类型：GMX
碳纤维窗选件（-CW）
碳纤维窗口可用于大于约8 keV的能量。虽然这个窗口不能通过所有较低的能量，但碳纤维的Z比Al低，并且不存在任何与Be相关的危险。
兼容的探测器类型：GMX
低本底井（-LB-AWT和-XLB-AWT）
低本底井型探测器配有无氧高电导率（OFHC）铜端盖，带有0.02英寸壁厚的低本底高纯度铝井管。
兼容的探测器类型：GWL