应用说明

AN63 - 简单管理γ射线能谱测量中的死时间误差
提供简单的流程,用于消除γ射线能谱仪中由死时间引起的系统和随机误差。解释了活时间时钟对于产生基本恒定计数率的源的适用性,以及针对具有变化计数率的源的零死时间(ZDT)方案。在两种情况中都定义了测量计数率中的统计误差。解释主要针对ORTEC γ射线能谱仪。但通过微调,它们也可适用于X射线、α粒子和β粒子的能谱仪,或其他制造商的谱仪。

AN61 - 计数统计和ADC采样间隔如何控制飞行时间质谱的质量准确度

AN59 - 计数统计如何控制检测限和峰值精度

AN58 - 直方图和计数统计如何影响峰位精度

AN57 - 处理时间数字化器中的死时间失真
本研究考察了应用于高计数率条件下的,数字采样器固有的死时间失真。它包括一个实用的方案,介绍了在采集谱后如何对时间谱进行死时间校正。其原理通过飞行时间谱(TOF-MS)的典型应用进行阐明。

AN56 - 利用创新的零死时间技术进行不确定性分析的无损计数
对于计数率快速变化的应用,ORTEC无损计数方法通过估计与所收集数据相关的不确定性可得到精确的结果。

AN52 - 皮秒时间分析仪在激光雷达、表盘、飞行时间质谱、荧光/磷光寿命谱测量和脉冲或信号抖动分析中的应用
AN52解释了多停止时间谱分析的概念以及上述应用中ORTEC皮秒时间分析仪(型号9308)的功能。描述了测量ns到μs时间段的技术,其中精度为1.22皮秒,数字分辨率为65,000到1。

AN51 - 用于单光子计数的脉冲处理电子设备(从10到107次计数/秒)
“单光子计数”是一款强大的测量工具,适合使用低强度光源进行定量测量。它在100,000:1的动态范围内有出色的线性度和精度。本应用说明介绍了使用稳态和时变光源进行相关单光子计数的仪器和方法。提供了系统工作原理的简单说明以及极端操作条件下可用精度的概述。介绍了表盘、激光雷达、拉曼光谱和磷光衰变应用的实例。

AN50 - 荧光寿命谱测量仪器
本应用说明解释了荧光寿命谱测量的基本原理,并描述了构建具有皮秒时间分辨率的系统所需的电子仪器。提供了用于调整关键操作参数的指南。包括推荐的仪器列表。

AN42 - 定时谱分析的原理和应用

AN40 - 使用硅面垒型探测器的重离子谱分析

AN34 - 核科学实验
理论和基本应用简介:用于检测α、β、γ、X射线和中子辐射的方法和电子设备。 本实验手册中概述的实验是多年来为本科生实验室开发和完善的核科学实验。建议每位实验室课程编排负责人选择适当的实验,并对其进行修改以适应预期课程计划中的特定需求和设备。

建立ISO-CART测量站以满足放射性物质的政府掩埋规定

用ISO-CART和程序同位素测量桶活性的原因
核废料的拆除、净化和正常处理将产生大量放射性物质,这些放射性物质以许多不同的基质形式存储在许多不同大小的容器中。必须在移动、运离场外、掩埋或放置在存储区域之前测量这些容器,以确定其放射性含量。在ORTEC广泛的谱测量系统和产品中,有两种在该领域具有很大的实用性,它们为这些γ射线测量问题提供了简单且经济的解决方案。

低水平α能谱测量的样品制备 - 空气、过滤器、水和土壤

低水平γ能谱测量指南 - 空气、过滤器、水和土壤

选择最佳的高纯锗(HPGe)探测器
根据几个简单的规则选择适合您特定测量情况的最佳HPGe探测器。这些规则根据探测过程如何工作、伽马射线如何穿透材料的一些基本概念以及γ射线能谱测量原理确定