本文提供的这些建议是为了确保您的HPGe探测器获得最佳性能，并为您提供系统可能出现问题的早期指示。安装在屏蔽体中时，应谨慎处理探测器。端盖由薄壁材料制成。用任何力通过端盖提起或操作探测器可能导致端盖弯曲。在所有情况下都应避免弯曲端盖。许多探测器的入射窗口固定在端盖的前部。这种弯曲可能导致入射窗口处的小的真空泄漏。
收到HPGe探测器后，应检测探测器系统并测试其预期性能。
冷却系统。应小心地用液氮填充杜瓦瓶，以防止低温恒温器和探测器长时间暴露在冷气中。用一个简单的风扇或纸/纸板防止O形密封环的快速冷却，这可以防止真空破坏。
一旦探测器得到冷却，我们建议记录端盖相对于环境室温的温度。这可以为您提供系统老化时真空性能的参考。真空应该足够好以确保端盖温度的差异与环境室温不超过5摄氏度。
记录测量的能量分辨率不仅是对性能的检查，而且应该在条件改变时提供良好的参考。
对于系统的储存，应在液氮中保持冷却。如果在室温下储存（不建议），系统应至少每月冷却至液氮温度至少48小时，并进行测试以确保系统性能无变化
当安装在屏蔽体中时，系统不应与屏蔽体或工作台直接接触。如果屏蔽非常靠近低温恒温器，则可能需要使用胶带或绝缘塑料。这包括电缆末端。检测器电子设备和任何PC的所有电源连接应与主电源共用同一电路。应特别注意确保高压电缆良好接地，并且电缆不接近任何已知的噪声辐射源（即电机或其他高压开关电源）。 脏电缆连接是常见的噪音源。如果不能选择更新的电缆，可以使用甲醇或酒精清洁电缆连接。
如果您的探测器系统有Be或碳纤维窗口，则在未进行关键测量时应将保护盖保持在适当位置。